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    • 產(chǎn)品詳情

    • 產(chǎn)品名稱：日本大冢低相位差高速檢查設(shè)備

    • 產(chǎn)品型號：RE-200
    • 產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
    • 產(chǎn)品價格：0
    • 折扣價格：0
    • 產(chǎn)品文檔：
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    簡單介紹：
    日本大冢低相位差高速檢查設(shè)備RE-200 日本大冢低相位差高速檢查設(shè)備RE-200 日本大冢低相位差高速檢查設(shè)備RE-200
    詳情介紹：

    低相位差高速檢查設(shè)備　RE-200

    低相位差高速檢查設(shè)備 RE-200光軸的高精度管理！ 3σ≦0.02°
    低相位差測量

     

     

     

     

     

     

     

     

    產(chǎn)品信息

    特 點

    ? 可測從0nm開始的低（殘留）相位差
    ? 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)
    （相當(dāng)于世界*快速的0.1秒以下來處理）
    ? 無驅(qū)動部，重復(fù)再現(xiàn)性高
    ? 設(shè)置的測量項目少，測量簡單
    ? 測量波長除了550nm以外，還有各種波長
    ? Rth測量、全方位角測量
    （需要option的自動旋轉(zhuǎn)傾斜治具
    ? 通過與拉伸試驗機組合，可同時評價膜的偏光特性和光弾性
     (本系統(tǒng)屬特注。）

    測量項目

    ? 相位差（ρ[deg.], Re[nm]）
    ? 主軸方位角（θ[deg.]）
    ? 橢圓率（ε）?方位角（γ）
    ? 三次元折射率（NxNyNz）

    用　途

    ? 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
    ? 樹脂、玻璃等透明、非均質(zhì)材料（玻璃有變形，歪曲等）

    原　理

    ? 什么是RE-200
    ? RE-200是光子結(jié)晶素子（偏光素子）、CCD相機構(gòu)成的偏光計測模塊和透過的偏光光學(xué)系相組合，可高速且高精度的測量位相差（相位差）、及主軸方位角。CCD相機1次快門獲取偏光強度模式，沒有偏光子旋轉(zhuǎn)的機構(gòu)，系統(tǒng)整體上是屬于小型構(gòu)造，長時間使用也能維持穩(wěn)定的性能。

    仕　樣

    型號

    RE series

    樣品尺寸

    *小10×10mm ～*大100×100mm

    測量波長

    550nm （標準仕樣）※1

    相位差測量范圍

    約0nm ～約1μm

    軸檢出重復(fù)精度

    0.05°（at 3σ） ※2

    檢出器

    偏光計測模塊

    測量光斑直徑

    2.2mm×2.2mm

    光源

    100W 鹵素?zé)艋?LED光源

    本體?重量

    300(W) × 560(H) ×430（D) mm 、約20kg

     Option
    ? Rth測量、全方位角測量※治具本體（旋轉(zhuǎn)：180°, 傾斜：±50°）

    ? 動旋轉(zhuǎn)傾斜治具

    株式會社タマサキ精密測定機器の総合商社
    香港玉崎有限公司
    深圳市京都玉崎電子有限公司
    塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司
    地址：江蘇省蘇州市高新區(qū)濱河路588號賽格電子市場B座708室
    電話：(+86)0512-67089211

    手機：(+86)15902189399

    郵箱：suz@tamasaki.com
    網(wǎng)址：http://www.ktts.net
    營業(yè)部：黃羅龍

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